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- 常見的EMC測(cè)試項(xiàng)目
- 點(diǎn)擊次數(shù)：3585 更新時(shí)間：2009-10-22
電磁干擾（EMI）測(cè)試
電波暗室測(cè)試（Semi-Anchoic Chamber Test）
傳導(dǎo)測(cè)試（EMI Conduction Test）
干擾功率測(cè)試（Disturbance Power Test）
電源諧波測(cè)試（Harmonics Test）
電壓閃爍測(cè)試（Flicker Test）
不連續(xù)干擾測(cè)試（Click Test）電磁耐受（EMS）測(cè)試
耐靜電測(cè)試（ESD）
耐射頻輻射測(cè)試（RS）
耐脈沖雜訊測(cè)試（EFT）
耐雷擊測(cè)試（Surge）
耐射頻傳導(dǎo)測(cè)試（CS）
耐電源頻率磁場(chǎng)測(cè)試（Magnetic Field）
耐電壓變動(dòng)測(cè)試（Voltage Dips & Interruptions
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